在半導體行業(yè)中，碳化硅（SiC）因其優(yōu)異的電氣特性和熱穩(wěn)定性而受到廣泛關(guān)注。作為高功率、高頻電子器件的理想材料，SiC的應用逐漸滲透到電力電子、汽車電子和光電子等多個領(lǐng)域。然而，SiC襯底的質(zhì)量直接影響到器件的性能和可靠性，因此，對碳化硅襯底進行嚴格的檢測顯得尤為重要。本文將詳細探討碳化硅襯底檢測的必要性、主要檢測方法、質(zhì)量標準及其對行業(yè)發(fā)展的影響。